深圳市硅芯创专业PCB抄板与雾度计测试仪开发克隆

该款雾度计测试仪是硅芯创在原样机的基础上二次开发而研制的，我公司拥有丰富的PCB抄板与仿制克隆经验。并利用国外各种先进的设备进行芯片解密，PCB抄板定位分析，外形模具仿制设计，组装测试及样机调试等，作为领跑者，从未被超越。满足您的各项需求，以下是雾度计测试仪的介绍： 
仪器介绍：  
1、满足CIE-A、CIE-C、CIE-D65三种标准照明光源下的雾度与全透过率测量  
2、满足补偿法测试，可提供更准确的测试结果。  
3、拥有开放式的测量区域，可以满足任意大小的样品测量。  
4、采用5.0寸TFT显示屏，拥有良好的人机交互界面。  
5、拥有竖放和横放两种放置状态，方便样品放置  
6、采用LED光源，寿命长，十年无需更换  
7、无需预热，开机校准后即可测试，测试用时时间短，3秒即可  
8、体积小，重量轻，方便携带  
产品参数：http://www.gxcpcb.com    
光源:CIE-A、CIE-C、CIE-D65    
遵循标准:ASTM D1003/D1044，ISO13468/ISO14782，JIS K 7105，JIS K 7361，JIS K 7136，GB/T 2410-08    
测量参数:雾度（HAZE）,透过率（T）    
光谱响应:CIE光谱函数Y/V(λ)    
光路结构:0/d    
照明与样品孔径尺寸:16.5mm/21mm    
量程:0-100%    
雾度分辨率:0.01单位    
透过率分辨率:0.01单位    
雾度重复性:雾度值＜10%，重复性≤0.05%；雾度值≥10%，重复性≤0.1%    
透过率重复性:≤0.1单位    
样品大小:厚度≤150mm    
存储数据:20000个数值    
接口:USB接口    
电源:DC24V    
工作温度:+10 – 40 °C (+50 – 104 °F)    
储藏温度:0 – 50 °C (+32 – 122 °F)    
体积:长X宽X高：310mmX215mmX540mm    
可选配件:雾度标准片、测量夹具 
深圳硅芯创科技从单片机解密、电路板抄板、PCB设计、电路板打样、电路板焊接到电子产品的整机克隆、功能修改、软硬件开发以及成品加工。我司提供全程技术支持与详细解决方案。欲知详情者，欢迎来电垂询！ http://www.gxcpcb.com